表面检测系统,可提供不同版本和系统概念 蔡司ABIS II

使用模块化探头实现客观、快速的测量
ABIS II可用于检测各种缺陷类型。该系统可对凹痕、凹凸、凹陷、波纹、收缩、裂缝进行可靠的早期识别和分类,它是生产钣金零件和白车身的完美质量控制仪器。用户尤其可从高精度和极短的循环时间中获益。ABIS II的模块化探头技术具有极高的灵活性。通过可选的集成对比探头,它还可以用于检测对比度敏感的缺陷,例如:粘合剂残留物、划痕和污垢。

可选探头:
可选软件: